Лабораторія
ВИСОКОРОЗДІЛЬНОЇ Х-ПРОМЕНЕВОЇ ДИФРАКТОМЕТРІЇ

Обладнання:

Високороздільний рентгенівський дифрактометр PANalytical X'Pert PRO MRD (Philips)

Набором рентгено-оптичних компонент для використання в стандартній компланарній схемі дифракції, а також для дифракції в ковзній геометрії i рефлектометрії. Джерело випромінювання з довжиною хвилі CuKα (0,154 нм).
Спектральна та кутова монохроматизація пучка здійснюється за допомогою чотирьох кратного асиметричного монохроматора Ge(220).
Тримач зразків має 6 ступенів вільності, що дозволяє локально досліджувати як пласкі, так і зігнуті зразки по всій поверхні (максимальний розмір 100х100х21 мм).

Можливості:

  • фазовий аналіз зразків різних форм та розмірів;

  • структурний та фазовий аналіз тонких плівок в ковзній геометрії;

  • Х-променева рефлектометрія;

  • визначення залишкових напруг в режимах як Psi, так і Omega сканування;

  • діагностика структурної якості за високороздільними картами розсіяння в околі вузлів оберненої гратки;

  • визначення параметрів багатошарових епітаксійних структур (товщина шарів, склад, період повторення) методом Х-променевої дифрактометрії.

Вибрані публікації

Рентгенооптичні ефекти в багатошарових періодичних квантових структурах . Кладько В.П., Мачулін В.Ф., Григор’єв Д.О., Прокопенко І.В. Київ, Наукова думка, – 288 с. завантажити

Kladko V., Kuchuk A., Lytvyn P., Yefanov O., Safriuk N., Belyaev A., Mazur Y.I., DeCuir E.A., Ware M.E., Salamo G.J. Substrate effects on the strain relaxation in GaN/AlN short-period superlattices, Nanoscale Res. Lett. 2012. Vol. 7, 1. P. 289. https://doi.org/10.1186/1556-276X-7-289 .

Brodnikovska I., Korsunska N., Khomenkova L., Polishchuk Yu., Brychevskyi M., Brodnikovskyi Y., Brodnikovskyi D., Polishko I., Vasylyev O., The investigation of 10Sc1CeSZ structure transformation and ionic conductivity. // Materials Today: Proceedings. – 2022. – Vol. 50. – P. 487-491, https://doi.org/10.1016/j.matpr.2021.11.299.

Melnichuk O.V., Korsunska N.O., Markevich I.V., Boyko V.V., Polishchuk Yu.O., Tsybrii Z.F., Melnichuk L.Yu., Venger Ye.F., Kladko V.P., Khomenkova L.Yu., Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. – 2021. – Vol. 24, No.4. - P. 390-398. https://doi.org/10.15407/spqeo24.04.390

N. Korsunska, L. Borkovska, Yu. Polischuk, O. Kolomys, P. Lytvyn, I. Markevich, V. Strelchuk, V. Kladko, O. Melnichuk, L. Melnichuk, L. Khomenkova, C. Guillaume, X. Portier, Photoluminescence, conductivity and structural study of terbium doped ZnO films grown on different substrates // Materials Science in Semiconductor Processing, 2019, V.94, P.51-56. https://doi.org/10.1016/j.mssp.2019.01.041 .

N. Korsunska, M. Baran, I. Vorona, V. Nosenko, S. Lavoryk, Yu. Polishchuk, V. Kladko, X. Portier, L. Khomenkova, Effect of Cooling Rate on Dopant Spatial Localization and Phase Transformation in Cu-Doped Y-Stabilized ZrO2 Nanopowders // Physica Status Solidi (C), 2017, V.14, Issue 12, 1700183.


Публікації професора Кладька В.П.

Поліщук Юлія Олегівна, канд. фіз.-мат. наук, н.с.
тел./факс: +38 (044) 525-58-53, e-mail: justis@ukr.net