Embedded Files
Лабораторія
Обладнання:
Обладнання:
потрійний спектрометр Horiba Jobin-Yvon T64000 (200 ÷ 1700 нм):
конфокальний мікроскоп UV-Visible-NIR Olympus BX41;
моторизований XYZ скануючий столик з кроком 0,1 мкм (Marghauser GmbH);
He-Cd лазер KIMMON KOHA IK5651R-G (325 та 442 нм),
Ar-Kr лазер Stabilite 2018-RM Spectra Physics (488 нм),
твердотільні лазери Spectra Physics EXLSR-532-150-CDRH (532 нм) та Toptica Photonics iBeam-Smart-785-S-WS (785 нм);
оптичний мікро-кріостат RC102-CFM (3.5 ÷ 325 К) (CIA CRYO Industries);
мікро-температурна комірка Linkam Scientific Instruments THMS600 (78 ÷ 900K).
інфрачервоний вакуумний Фур’є спектрометр Bruker Vertex 70V (12500 ÷ 50 см-1 ):
модулі для вимірювання ІЧ спектрів оптичного пропускання,
дифузного та дзеркального відбивання,
ATR та ІЧ випромінювання;
оптичні ІЧ гелієвий та азотний кріостати (3,5 ÷ 500 К).
Можливості:
Можливості:
мікро-Раманівський, фотолюмінесцентний та ІЧ аналіз випромінювальних властивостей, структури, хімічного складу, електронних і фононних збуджень в твердих тілах, фізико-хімічних характериcтик напівпровідників, хімічних сполук, наноструктур та нанокомпозитів з субмікронним просторовим розділенням;
мікро-Раманівське і люмінесцентне 2D-3D просторове картографування:
деформацій та хімічного складу;
температури;
концентрації і рухливості носіїв заряду;
оптичного випромінювання наноструктур;оптичні низькотемпературні дослідження фононних, плазмон-фононних, електронних збуджень, випромінювальної рекомбінації носіїв заряду в конденсованих системах;
інфрачервона спектроскопія пропускання, ATR, дифузного та дзеркального відбивання;
атестовані метрологічні вимірювання згідно галузі.
Вибрані публікації
Вибрані публікації
A.S. Nikolenko, V.V. Strelchuk, P.M. Lytvyn, I.M. Danylenko, S.V. Malyuta, O.G. Gontar, S.P. Starik, T.V. Kovalenko, S.O. Ivakhnenko / Correlated Kelvin-probe force microscopy, micro-FTIR and micro-Raman analysis of doping anisotropy in multisectorial boron-doped HPHT diamonds // Diamond and Related Materials 124, 108927 (2022). https://doi.org/10.1016/j.diamond.2022.108927
G.S. Pekar, A.F. Singaеvsky, O.F. Kolomys, V.V. Strelchuk, P.M. Lytvyn, M.M. Osipyonok, I.A. Vasin, M.A. Skoryk / Magnetic and optical properties of printed ZnO:Co polycrystalline layers // Materials Science in Semiconductor Processing 135, 106054 (2021). https://doi.org/10.1016/j.mssp.2021.106054
V. Strelchuk, O. Kolomys, S. Rarata, P. Lytvyn, O. Khyzhun, C.O. Chey, O. Nur, M. Willander / Raman Submicron Spatial Mapping of Individual Mn-doped ZnO Nanorods // Nanoscale Research Letters 12, 351 (2017). https://doi.org/10.1186/s11671-017-2127-4
Y. Stubrov, A. Nikolenko, V. Strelchuk, S. Nedilko, V. Chornii/ Structural Modification of Single-Layer Graphene Under Laser Irradiation Featured by Micro-Raman Spectroscopy // Nanoscale Research Letters 12:297 (2017). https://doi.org/10.1186/s11671-017-2089-6
A. Nikolenko, V. Strelchuk, O. Gnatyuk, P. Kraszkiewicz, V. Boiko, E. Kovalska, W. Mista, R. Klimkiewicz, V. Karbivskii, G. Dovbeshko / In-situ Raman study of laser-induced stabilization of reduced nanoceria (CeO2-x) supported on graphene // Journal of Raman Spectroscopy 50, 490-498 (2019). https://doi.org/10.1002/jrs.5542
O.M. Slobodian, P.M. Lytvyn, A.S. Nikolenko, V.M. Naseka, O.Yu. Khyzhun, A.V. Vasin, S.V. Sevostianov and A.N. Nazarov / Low-Temperature Reduction of Graphene Oxide: Electrical Conductance and Scanning Kelvin Probe Force Microscopy // Nanoscale Research Letters 13:139 (2018). https://doi.org/10.1186/s11671-018-2536-z
Стрельчук Віктор Васильович, док. фіз.-мат. наук, пр.н.с., професор
тел./факс: +38 (044) 525-64-73, e-mail: viktor.strelchuk@ccu-semicond.net LinkedIn
Page updated
Report abuse