Лабораторія
КОМПЛЕКС СКАНУЮЧОЇ ЗОНДОВОЇ МІКРОСКОПІЇ
Обладнання:
скануючий зондовий мікроскоп NanoScope IIIa Dimension 3000тм (Bruker Corp.);
оптичний мікроскоп NU-2E (Carl Zeiss);
Можливості:
атомно-силова мікроскопія і спектроскопія;
магнітна та електростатична мікроскопія;
силова Кельвін-зонд мікроскопія;
провідна та ємнісна мікроскопія (картографування та локальні ВАХ і ВФХ);
наноіндентування і картографування пружних властивостей поверхонь;
нанотрібологія та зносостійкість;
елементи нанолітографії (механічна та електрична) і наноманіпуляцій;
розмір об’єму сканування 100х100х4,5 мкм, максимальний діаметр зразків 200 мм, висота 15 мм;
чутливість поверхневого потенціалу 0,1 мВ;
діапазон струмів провідної АСМ від 1 пА до 1 мкА, напруги зміщення в діапазоні +/- 12 В;
чутливість ємнісної мікроскопії 10-22Ф/Гц0,5, амплітуда змінної напруги від 0,1 до 15 В, частота від 5 до 100 кГц.
діапазон навантажень при індентуваннві від одиниць нН до сотень мкН;
набір методів цифрової оптичної мікроскопії, у тому числі стекова мікроскопія динамічного фокусу та фотограмметрія;
атестовані метрологічні вимірювання геометрії елементів поверхонь мікронних, нанометрових та субнанометрових розмірів;
Вибрані публікації
Lytvyn Р.М. Scanning Probe Microscopy in Practical Diagnostic: 3D Topography Imaging and Nanometrology, in: A. Nazarov, F. Balestra, V. Kilchytska, D. Flandre (Eds.), Funct. Nanomater. Devices Electron. Sensors Energy Harvest., Springer International Publishing, Cham, 2014: pp. 179–219. https://doi.org/10.1007/978-3-319-08804-4.
Lytvyn P.M., Kuchuk A. V., Mazur Y.I., Li C., Ware M.E., Wang Z.M., Kladko V.P., Belyaev A.E., Salamo G.J. Polarization Effects in Graded AlGaN Nanolayers Revealed by Current-Sensing and Kelvin Probe Microscopy, ACS Appl. Mater. Interfaces. 2018. Vol. 10, 7. P. 6755–6763. https://doi.org/10.1021/acsami.7b19160.
Мokrozub V. V., Lazarenko L.M., Sichel L.M., Babenko L.P., Lytvyn P.M., Demchenko O.M., Melnichenko Y.O., Boyko N. V., Biavati B., DiGioia D., Bubnov R. V., Spivak M.Y. The role of beneficial bacteria wall elasticity in regulating innate immune response, EPMA J. 2015. Vol. 6, 1. P. 13. https://doi.org/10.1186/s13167-015-0035-1.
Литвин Петро Мар'янович, канд. фіз.-мат. наук, ст.н.с.
тел./факс: +38(044) 525-59-40, e-mail: plyt@isp.kiev.ua peter.lytvyn@ccu-semicond.net LinkedIn