Search this site
ЦККНО
  • Головна
  • Підрозділи ЦККНО
    • Зондова мікроскопія
    • Оптична та ІЧ спекроскопія
    • Х-променева дифрактометрія
    • Мас-спектроскопія
    • Еліпсометрія
    • Електрофізика
    • Освітлення
    • Фотоелектрика
  • Співробітники
  • Контакти
ЦККНО
  • Головна
  • Підрозділи ЦККНО
    • Зондова мікроскопія
    • Оптична та ІЧ спекроскопія
    • Х-променева дифрактометрія
    • Мас-спектроскопія
    • Еліпсометрія
    • Електрофізика
    • Освітлення
    • Фотоелектрика
  • Співробітники
  • Контакти
  • More
    • Головна
    • Підрозділи ЦККНО
      • Зондова мікроскопія
      • Оптична та ІЧ спекроскопія
      • Х-променева дифрактометрія
      • Мас-спектроскопія
      • Еліпсометрія
      • Електрофізика
      • Освітлення
      • Фотоелектрика
    • Співробітники
    • Контакти

Підрозділи ЦККНО


  • Комплекс скануючої зондової мікроскопії;

  • Лабораторія Раманівсько-люмінесцентної та інфрачервоної Фур'є спектроскопії;

  • Лабораторія високороздільної Х-променевої дифрактометрії;

  • Комплекс мас-спекрометричного аналізу та Х-променевої фотоелектронної спектроскопії;

  • Лабораторія спектральної багатокутової еліпсометрії;

  • Вимірювальний комплекс для експресного контролю напівпровідникових матеріалів і нанорозмірних приладів;

  • Центр випробувань і діагностики напівпровідникових джерел світла та освітлювальних систем на їх основі;

  • Центр випробувань фотоперетворювачів та батарей фотоелектричних.

Буклет ЦККНО про обладнання та методи дослідження [завантажити]
Перелік інших ЦККНО НАН України

(с) ЦККНО “Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем”
Report abuse
Page details
Page updated
Report abuse