Ukrainian


You may visit the Site in ukrainian language.


ЦЕНТР КОЛЕКТИВНОГО КОРИСТУВАННЯ  ПРИЛАДАМИ НАН УКРАЇНИ 
при Інституті фізики напівпровідників  ім. В.Є. Лашкарьова НАНУ   
„Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем” 

Центр колективного користування приладами (ЦККП) "Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем" НАН України при Інституті фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАНУ є надбанням НАНУ і є складовою мережі Центрів колективного користування приладами Національної академії наук України. Ценр створений на виконання Постанови Президії НАНУ від 12.12.2003 р. № 302 та розпоряджень Президії НАНУ від 13.02.2004 р. № 99 та 28.04.2004 р. № 322.

Головним призначенням створених на базі провідних установ НАН України Центрів колективного користування унікальним науковим обладнанням/приладами є забезпечення наукових досліджень сучасним (світового рівня) коштовним імпортним науковим обладнанням, яке колективно використовується вченими академічних установ та вищих навчальних закладів.

Діяльність Центру визначається положенням, яке затверджується директором установи НАН України, на базі якої створюється Центр. Цим положенням, зокрема визначається порядок надання Центром послуг іншим науковим установам НАН, МОН та інших відомств України.

При ЦККП діє науково-технічна рада для розробки стратегії наукових досліджень, розв’язання найважливіших питань функціонування Центру, відбору найбільш актуальних пропозицій для їх реалізації засобами Центру. При наданні послуг організаціям НАН України та інших відомств Центр керується вимогами, визначеними в Розпорядженні Президії НАНУ № 322 від 28.04.2004. Безпосереднє керівництво роботою ЦККП здійснюєкерівник Центру.

Науко-технічна рада ЦККП:
  • ч.-к. НАН України, д.ф.-м. н. Бєляєв О.Є. в.о. директора  ІФН НАНУ – голова науково-технічної ради ЦККП
  • д.ф.-м.н., пр. н. с. Кладько В.П. керівник лабораторії, заступник директора ІФН НАНУ
  • д. ф.-м. н. Прокопенко І.Вкерівник ЦККП при ІФН НАНУ
  • ч.-к. НАН України, д.ф.-м. н. Валах М.Я. зав. відділенням ІФН НАНУ
  • д.ф.-м.н., пр. н. с. Стрельчук В.В. керівник лабораторії, 
  • д.ф.-м.н., пр. н. с. Назаров О.М. керівник лабораторії,
  • к.ф.-м.н., с.н.с. Литвин П.М. керівник лабораторії.

Головним призначенням ЦККП "Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем" при Інституті фізики напівпровідників НАН України є підвищення рівня наукових досліджень шляхом створення унікального в Україні науково-методичного і технічного забезпечення науково-дослідних робіт, нанодіагностики та супроводу технології отримання новітніх матеріалів та наноструктур з використанням:
  • багатоцільового оптичного комплекса конфокальної раманівської і люмінесцентної спектроскопії з субмікронним просторовим розділенням для дослідення хімічного складу, структури, електронних, фононних та інших збуджень в твердих тілах, фізико-хімічних характеристик та параметрів напівпровідникових, біологічних, хімічних матеріалів та наноструктур; 
  • високороздільної рентгенівської дифрактометрії для отримання інформації про структурну досконалість і деформаційний стан одно- 
  • і багатошарових епітаксійних структур при поєднанні широкого кола напівпровідникових матеріалів; 
  • скануючої зондової мікроскопії з широкими можливостями одержання інформації про фізичні властивості поверхонь різного типу (топографія, механічні, електрофізичні, магнітні тощо), їх керованої модифікації (нанолітографія); 
  • експресного дослідження основних електрофізичних параметрів напівпровідникових матеріалів та приладів за допомогою методів вольт-амперних та вольт-фарадних характеристик об’єднаних у аналітично-вимірювальний комплекс. ЦККП працює на розв’язання завдань науково-дослідної тематики ІФН НАНУ, установ НАН України та надає відповідні послуги іншим організаціям різних відомств при проведенні робіт з пріоритетних напрямків фундаментальних досліджень і прикладних розробок.
Основними науковими напрямками діяльності 
визначені наступні: 
  • фізика процесів взаємодії електромагнітного випромінювання 
    з речовиною;
  • фізика низько вимірних систем, мікро- та наноелектроніка;
  • оптоелектроніка та сонячна енергетика;
  • напівпровідникове матеріалознавство та сенсорні системи.
Лабораторії ЦККП: 
  • “Раманівсько-люмінесцентна субмікронна спектроскопія” 
  • "Високороздільна рентгенівська дифрактометрія"
  • "Комплекс скануючої зондової мікроскопії" 
  • "Вимірювальний комплекс для експресного контролю  напівпровідникових матеріалів і нанорозмірних приладів".

Лабораторії ЦККП входять до відповідних наукових підрозділів ІФН НАНУ:
    • лабораторія Раманівсько-люмінесцентнї субмікронної спектроскопіії – до складу наукового відділення "Оптика і спектроскопія"; 
    • лабораторія високороздільної Х-променевої дифрактометрії – наукового відділу дифракційних досліджень структури напівпровідників; 
    • лабораторія скануючої зондової мікроскопії – наукового відділу електроннозондових методів структурного і елементного аналізу напівпровідникових матеріалів і систем;
    • лабораторія “Вимірювальний комплекс для експресного контролю напівпровідникових матеріалів і нанорозмірних приладів” входить до складу відділу “Фізико-технічних проблеми іонно-легованих напівпровідників і багатошарових структур на їх основі”.